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大理石平臺的校準規(guī)程
校準前準備
1. 環(huán)境要求:溫度一般控制在20±5℃,相對濕度不高于65%,環(huán)境應清潔、無振動和強電磁干擾。
2. 器具準備:準備好激光干涉儀、電子水平儀、千分表、塞尺等經(jīng)校準合格且在有效期內的高精度測量儀器。
3. 平臺清潔:使用軟布和清水輕輕擦拭大理石平臺表面,去除灰塵、污垢等雜質,避免使用硬質工具或腐蝕性清潔劑。
校準步驟
1. 平面度校準:將電子水平儀放置在大理石平臺上,在平臺的不同位置和方向進行測量,記錄水平儀的讀數(shù),計算平臺的平面度誤差。也可使用激光干涉儀進行平面度測量,按照儀器操作說明進行測量和數(shù)據(jù)采集。
2. 平行度校準:如果有多個大理石平臺或需要測量平臺與其他平面的平行度,可使用千分表或激光干涉儀,將測量頭或反射鏡放置在被測平面上,移動測量裝置,測量不同位置的距離變化,計算平行度誤差。
3. 垂直度校準:使用直角尺或垂直度測量儀,將直角尺的一邊與大理石平臺的一個側面貼合,另一邊與另一個需要測量垂直度的平面貼合,用塞尺測量直角尺與被測平面之間的間隙,判斷垂直度是否符合要求。
4. 尺寸校準:對于有尺寸精度要求的大理石平臺,可使用量具如卡尺、千分尺等,測量平臺的邊長、孔徑等尺寸,與設計尺寸進行對比,確定尺寸偏差。
校準結果處理
1. 數(shù)據(jù)記錄:詳細記錄校準過程中的各項測量數(shù)據(jù)、環(huán)境條件、測量位置等信息。
2. 結果判定:將測量結果與相應的精度標準進行對比,如GB/T 20428-2006中規(guī)定的0級、1級、2級和3級精度標準。若各項指標均在允許范圍內,則校準合格;否則為不合格。
3. 證書出具:校準合格的大理石平臺,出具校準證書,注明校準日期、有效期、校準結果等信息;不合格的平臺,應注明不合格項目和偏差情況。
校準周期
根據(jù)使用頻率和環(huán)境條件,建議每半年到一年進行一次校準。若使用頻繁或工作環(huán)境較差,可適當縮短校準周期。