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工廠儀器年檢校準(zhǔn)出報(bào)告過體系認(rèn)證
產(chǎn)品簡介

工廠儀器年檢校準(zhǔn)出報(bào)告過體系認(rèn)證,本公司專業(yè)做儀器檢測,儀器校準(zhǔn),儀器計(jì)量,儀器檢驗(yàn),儀器校正,儀器外校,儀器計(jì)量校正,儀器計(jì)量外校,儀器送檢,儀器年檢,儀器校準(zhǔn)檢測,儀器檢測外校,儀器校準(zhǔn)外校,服務(wù)方式靈活,有3種校準(zhǔn)方式:安排下廠校準(zhǔn)、上門收取儀器、快遞過來校準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):校準(zhǔn)計(jì)量
更新時(shí)間:2024-12-17
廠商性質(zhì):其他
訪問量:255
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工廠儀器年檢校準(zhǔn)出報(bào)告過體系認(rèn)證

我司專注于,儀器校準(zhǔn)計(jì)量,儀器檢驗(yàn)校正,儀器檢驗(yàn)外校,儀器年檢外校,儀器檢驗(yàn)校準(zhǔn),儀器計(jì)量外校,儀器檢驗(yàn)校正,校正量具,檢驗(yàn)測量,校準(zhǔn)儀器,校驗(yàn)器具,外校量具,校驗(yàn)儀器,標(biāo)定設(shè)備,校正設(shè)備,檢測設(shè)備,校正器具,校正器具,校驗(yàn)設(shè)備,校準(zhǔn)器具,標(biāo)定設(shè)備,計(jì)量器具,校正設(shè)備,校準(zhǔn)設(shè)備,校準(zhǔn)儀器,外校測量,檢驗(yàn)設(shè)備,計(jì)量量具,校驗(yàn)量具,檢驗(yàn)儀器,,計(jì)量內(nèi)校員培訓(xùn)的專業(yè)計(jì)量檢測校準(zhǔn)機(jī)構(gòu).公司的業(yè)務(wù)分布在: 河北省、山西省、吉林省、遼寧省、黑龍江省、陜西省、甘肅省、青海省、山東省、福建省、浙江省、中國臺(tái)灣省、河南省、湖北省、湖南省、江西省、江蘇省、安徽省、廣東省、海南省、四川省、貴州省、云南省等地區(qū).本校準(zhǔn)檢測中心設(shè)有:力學(xué)、長度、幾何量、衡器、電磁學(xué)及無線電室、熱工等專業(yè)校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室,并出具符合客戶驗(yàn)廠審核等要求校準(zhǔn)證書/報(bào)告.我司將以合理的價(jià)格.優(yōu)質(zhì)的服務(wù),高品質(zhì)的檢測技術(shù)為廣大顧客服務(wù).

 工廠儀器年檢校準(zhǔn)出報(bào)告過體系認(rèn)證

我司計(jì)量流程:
1、電話或者微信咨詢業(yè)務(wù)人員;
2、發(fā)儀器校準(zhǔn)清單客戶提供內(nèi)容包含(儀器名稱,型號(hào),數(shù)量做成表格),發(fā)給我方業(yè)務(wù)員安排書面報(bào)價(jià);
3、雙方協(xié)調(diào)價(jià)格,達(dá)成合作協(xié)議,確定工程師到廠檢驗(yàn)時(shí)間或自己送件時(shí)間;
4、按約定時(shí)間安排工程師下廠校準(zhǔn)或取回校準(zhǔn);
5、3-5個(gè)工作日左右出具校準(zhǔn)證書,送回或自取帶回的儀器;
6、證書和發(fā)票寄出,提供后續(xù)的跟蹤服務(wù)

 

 

工廠儀器年檢校準(zhǔn)出報(bào)告過體系認(rèn)證


服務(wù)優(yōu)勢:
1.服務(wù)方式靈活,安排下廠校準(zhǔn)、上門收取儀器、快遞儀器,3種校準(zhǔn)方式.
2.全國各地均可安排下廠校準(zhǔn)服務(wù),從下單到安排下廠校準(zhǔn)、上門收取儀器、快遞儀器均不超過個(gè)3個(gè)工作日,確保不影響客戶的正常運(yùn)作.
3.客戶委托我司校準(zhǔn)的儀器超差時(shí),在我們能力范圍內(nèi)可以免費(fèi)做相應(yīng)的調(diào)校服務(wù)(不做維修).
4.現(xiàn)場完成校準(zhǔn)到核發(fā)證書一般為5個(gè)工作日(除另行協(xié)議外),帶回本公司校準(zhǔn)的為6個(gè)工作日(代送檢為10個(gè)工作日),如需加急提前預(yù)約確定.


連續(xù)光源背景校正

2)連續(xù)光源背景校正(The continuum-source correction method)切光器使銳線源和氘燈源交替進(jìn)入原子化器。然后分別測定吸光值: A銳=A+AB   A氘=a+AB=AB  則     A=A銳-AB=A銳-A氘  式中a為基態(tài)原子對(duì)連續(xù)光源的吸光值,因待測原子濃度很低,相對(duì)而言,a可勿略。

評(píng)論:盡管很多儀器均帶有這種扣背景裝置,但其性能并不理想!主要原因包括,①連續(xù)光源和切光器可降低S/N;②原子化焰中氣相介質(zhì)和粒子分布不均,對(duì)兩個(gè)光源的排列要求高;③大多儀器裝配的D燈不適于可見光區(qū)(I太?。?。 

3)塞曼效應(yīng)背景校正(Background correction based on the Zeeman effect)

a)Zeeman效應(yīng):原子蒸汽在強(qiáng)磁場(~10 kG)作用下,各個(gè)電子能級(jí)會(huì)進(jìn)一步分裂,即 每條譜線進(jìn)一步分裂(從2S+1條分裂成2J+1條)的現(xiàn)象(n2S+1LJ—— n2S+1 L2J+1)。分裂的譜線間波長差很小,約為0.01nm。

b)校正原理:Zeeman背景校正是根據(jù)磁場將(簡并的)譜線分裂成具有不同偏振特性的成份。對(duì)單重線而言,分裂成振動(dòng)方向平行于磁場的π線(波長不變)和垂直于磁場的±ζ線(波長增加或降低,并呈對(duì)稱分布)由譜線的磁特性和偏振特性來區(qū)別被測元素吸收和背景吸收。




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